近,semiengineering 的文章指出,由于复杂性不断上升,芯片制造从单片芯片转向多芯片组件,需要进行更多次迭代,以及定制化程度不断提高导致设计和验证更加耗时,首次流片的成功率正在急剧下降。从西门子提供的···